1.儀器自身性能與狀態(tài)

 

核心部件老化：高壓源、電流傳感器、電阻測(cè)量模塊等核心部件使用久了會(huì)磨損、老化，直接降低信號(hào)采集和處理的精度。

 

部件校準(zhǔn)失效：未定期校準(zhǔn)或校準(zhǔn)方法不規(guī)范，會(huì)導(dǎo)致儀器基準(zhǔn)值偏移，比如電壓、電流測(cè)量的誤差超出允許范圍。

 

硬件設(shè)計(jì)缺陷：部分低成本儀器的屏蔽設(shè)計(jì)不佳，易受內(nèi)部電路干擾，影響高精度信號(hào)的檢測(cè)。

 

2.環(huán)境條件波動(dòng)

 

溫度與濕度：儀器最佳工作溫度多為23℃±5℃，濕度45%~75%RH，溫度過(guò)高/過(guò)低會(huì)影響電子元件穩(wěn)定性，濕度過(guò)大可能導(dǎo)致絕緣性能下降，干擾絕緣電阻等項(xiàng)目的測(cè)試。

 

電磁干擾：周?chē)写蠊β试O(shè)備（如變頻器、電焊機(jī)）、高壓線路時(shí)，電磁輻射會(huì)干擾儀器的信號(hào)傳輸，導(dǎo)致測(cè)量值波動(dòng)。

 

電源不穩(wěn)定：供電電壓波動(dòng)過(guò)大（超出220V±10%范圍），會(huì)影響儀器內(nèi)部電路的正常工作，尤其對(duì)高壓測(cè)試項(xiàng)目的精度影響明顯。

 

3.測(cè)試操作不規(guī)范

 

測(cè)試引線問(wèn)題：引線破損、接觸不良，或未使用專用屏蔽引線，會(huì)導(dǎo)致信號(hào)損耗或引入干擾，比如絕緣測(cè)試時(shí)引線漏電會(huì)誤判為產(chǎn)品不合格。

 

夾具與連接：夾具接觸電阻過(guò)大、夾持不牢固，或測(cè)試探頭與產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)對(duì)位不準(zhǔn)，會(huì)影響電流、電阻等參數(shù)的傳遞，導(dǎo)致測(cè)量誤差。

 

參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤：未根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如IEC、GB標(biāo)準(zhǔn)）設(shè)置正確的測(cè)試電壓、電流范圍、測(cè)試時(shí)間，或選錯(cuò)測(cè)試項(xiàng)目，會(huì)直接導(dǎo)致結(jié)果偏差。

 

4.校準(zhǔn)與維護(hù)缺失

 

未定期校準(zhǔn)：安規(guī)測(cè)試儀需按周期（通常每年1次）送計(jì)量機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)，長(zhǎng)期不校準(zhǔn)會(huì)導(dǎo)致精度持續(xù)漂移，無(wú)法保證測(cè)試準(zhǔn)確性。

 

日常維護(hù)不足：儀器表面灰塵堆積、散熱口堵塞導(dǎo)致過(guò)熱，或長(zhǎng)期閑置后未做預(yù)熱直接測(cè)試，都會(huì)影響部件穩(wěn)定性，降低測(cè)試精度。